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I-Wafer型全自动晶圆超声波缺陷检测系统长显超声
来源:EL冷光片_冷光片技术培训_冷光片原材料北京京显 | 发布时间:2024/5/22 | 浏览次数:
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I-Wafer型全自动晶圆超声波缺陷检测系统
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产品介绍:
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名称:超声波扫描显微镜
型号:I-Wafer
产地:德国
应用: 晶圆内部裂缝或杂质无损检测。
应用:
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i-Wafer系列是一款高端仪器,操作人员可选择接收/拒绝标准,手动或自动检测晶圆。在KSI i-Wafer的探测下,晶圆中的孔隙、分层或者杂质都能被发现。尺寸在450mm的多种晶圆也能进行检测。
主要参数:
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* 新型 i-Wafer晶圆缺陷检测系统的主要特点:
- 扫描速度最高达2000mm/s
- 新型换能器
- 高质画面
- 同时使用1只、2只、4只换能器提高效能
- 能发现只有几微米的缺陷
- 能检测200mm、300mm和450mm的晶圆
- 频率范围从10MHz到550MHz
- 最大放大倍数:625倍
- 通过不同的扫描模式灵活应用
- 使用Windows 7 GUI就可简单操作
- KSI 可视软件
- 根据用户需要加以应用
- 高性价比
咨询或索取详细产品资料,请联系ANALYSIS(苏州长显)工作人员。
 
TAG:超声波扫描显微镜
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